성균관대는 양우석 교수 연구팀이 대용량 배터리의 성능 저하 원인을 규명했다고 22일 밝혔다.
성균관대에 따르면 양 교수 연구팀은 우규희 한국기계연구원 박사 연구팀과 공동 연구를 통해 배터리를 분해하지 않고 전기화학적으로 배터리의 내부 저항을 측정할 수 있는 기술(전기화학적 임피던스 분광법)을 기반으로, 흑연 후막 전극의 열화 원인을 해석하는 성과를 거뒀다. 또 이를 통해 배터리의 열화 예측이 가능하다는 것을 학계에 보고했다.
최근 리튬 이온 배터리에 대한 수요가 급속도로 늘어나고 있다. 리튬 이온의 저장량을 높이기 위해 후막 전극을 사용하는 배터리가 주목 받고 있지만, 낮은 안정성 등의 성능적인 단점으로 인해 상용화에 어려움을 겪고 있다.
양 교수 연구팀은 흑연 후막 음극에서 일어나는 저항을 전기화학적 임피던스 분광법이라는 비파괴 분석을 통해 측정, 후막에서만 발견되는 새로운 저항 성분을 제시하고 그 원인을 규명했다. 리튬 이온이 비정상적으로 증착된 형태인 리튬 덴드라이트가 후막 전극 열화 원인임을 제시했으며, 해당 열화 원인의 유무를 배터리 분해없이 확인할 수 있는 기준을 제시했다.
전기화학적 임피던스 분광법
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전기화학적 임피던스 분광법을 통해 제시한 흑연 후막 전극의 열화 과정. /성균관대
양우석 교수는 "전기화학적 임피던스 분광법을 활용한 후막 전극 열화 원인 해석은 단순한 원인 도출 뿐만 아니라 배터리 열화를 예측할 수 있는 기준을 제시할 수 있을 것으로 기대된다"며 "현재 상용화돼 있는 리튬 이온 배터리 이외에도 차세대 배터리로서 연구되고 있는 건식 전극 등 다양한 연구 분야에서도 참고 및 활용될 수 있는 분석 모델"이라고 설명했다.
연구팀의 이번 연구는 그 성과를 인정받아 국제학술지인 저널 오브 인더스트리얼 앤 엔지니어링 케미스트리(Journal of Industrial and Engineering Chemistry, IF:5.9) 10월호에 게재될 예정이다.
